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Keysight B1505A 半導體功率器件分析儀曲線追蹤儀是能夠?qū)?sub-pA 電平至 10 kV 和 1500 A 的高功率器件進行表征的綜合解決方案。

力鈦科LETAK功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，集多種測量功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導體...

LET-2000D系列半導體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是力鈦科公司開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9標準的半導體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評...

4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導體工藝電氣特性分析的完整解決方案

可在絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管和其他雙極器件之類的半導體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測量

開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。

使用4200A-SCS 加快半導體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和...

進口大功率高精度晶體管圖示儀，廣泛應(yīng)用于半導體分立器件封裝測試，制造企業(yè)的半導體器件分立來料檢驗，半導體失效分析實驗，高等院校和研究所教學科研等。

ITC55100C 型號是一代的行業(yè)標準系列 ITC55100 測試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個非常強大的微控制器設(shè)計的，它的時序分辨率為40ns，比前代型號快20倍。

交互式可編程控制；自動光標測量；掃描測量模式

電流-控制設(shè)置為200 mA時，STEP AMPLITUDE設(shè)置為20x，STEP AMPLITUDE設(shè)置為10x。

ITC75100 是一種增強的未夾式電感負載 （UIL） 測試系統(tǒng)，它基于 ITC 行業(yè)的 ITC55 系列測試儀的成功，增加了額外的測試和測量能力。